Публікація: Контроль фотопроводимости полупроводников при помощи СВЧ техники
Немає доступних мініатюр
Файли
Дата
2011
Автори
Назва журналу
ISSN журналу
Назва тома
Видавництво
ХНУРЭ
Анотація
The questions of microwave-biased research photoconductivity in semiconductors are considered in the report. It is showed that use of the quasi-statistic resonators for measuring of photoconductivity is more preferable. Are presented. results of theoretical and experimental researches. СВЧ смещение для исследования фотопроводимости (ФП) полупроводников ис-пользуется весьма широко и эффективно. Преимущества СВЧ смещения по сравнению с постоянным напряжением, заключающиеся, прежде всего, в отсутствии необходимости создавать омические контакты, обеспечили дальнейшее развитие этого направления. Убедительно показано, что применение СВЧ смещения при исследовании полупроводников позволяет получать более объективную информацию, а зачастую - качественно новую информацию.
Опис
Ключові слова
СВЧ смещение, омический контакт, резонаторы, фотопроводимость
Бібліографічний опис
Бородин, Б. Г. Контроль фотопроводимости полупроводников при помощи СВЧ техники / Б. Г. Бородин, Вербицкий В. Г. // Функциональная база наноэлектроники : сб. науч. тр. IV Междунар. науч. конф., 30 сент. – 3 окт. 2011 г. – Х. ; Кацивели : ХНУРЭ, 2011. – С. 251–252.