Please use this identifier to cite or link to this item: http://openarchive.nure.ua/handle/document/1717
Title: Контроль фотопроводимости полупроводников при помощи СВЧ техники
Authors: Бородин, Б. Г.
Вербицкий, В. Г.
Keywords: СВЧ смещение
омический контакт
резонаторы
фотопроводимость
Issue Date: 2011
Publisher: ХНУРЭ
Citation: Бородин, Б. Г. Контроль фотопроводимости полупроводников при помощи СВЧ техники / Б. Г. Бородин, Вербицкий В. Г. // Функциональная база наноэлектроники : сб. науч. тр. IV Междунар. науч. конф., 30 сент. – 3 окт. 2011 г. – Х. ; Кацивели : ХНУРЭ, 2011. – С. 251–252.
Abstract: The questions of microwave-biased research photoconductivity in semiconductors are considered in the report. It is showed that use of the quasi-statistic resonators for measuring of photoconductivity is more preferable. Are presented. results of theoretical and experimental researches. СВЧ смещение для исследования фотопроводимости (ФП) полупроводников ис-пользуется весьма широко и эффективно. Преимущества СВЧ смещения по сравнению с постоянным напряжением, заключающиеся, прежде всего, в отсутствии необходимости создавать омические контакты, обеспечили дальнейшее развитие этого направления. Убедительно показано, что применение СВЧ смещения при исследовании полупроводников позволяет получать более объективную информацию, а зачастую - качественно новую информацию.
URI: http://openarchive.nure.ua/handle/document/1717
Appears in Collections:Международная научная конференция "Функциональная база наноэлектроники" Харьков-Кацивели 2011-2012

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
1515.doc22 kBMicrosoft WordView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.