Please use this identifier to cite or link to this item: http://openarchive.nure.ua/handle/document/1715
Title: Исследование статистических свойств параметров однотипных элементов
Authors: Кобзев, В. Г.
Keywords: наноэлектроника
статистические свойства параметров
порядковые статистики
Issue Date: 2011
Publisher: ХНУРЭ
Citation: Кобзев, В. Г. Исследование статистических свойств параметров однотипных элементов / В. Г. Кобзев // Функциональная база наноэлектроники : сб. науч. тр. IV Междунар. науч. конф., 30 сент. – 3 окт. 2011 г. – Х. ; Кацивели : ХНУРЭ, 2011. – С. 279–281.
Abstract: The likelihood boarders between order statistics distributions are introduced. These boarders are not depended from observed casual value’s distribution kind and equal to there quantiles.Целью данной работы является исследование свойств распределений порядковых статистик непрерывных случайных величин для конечных объемов анализируемых данных и выработка рекомендаций для их использования при обработке наборов параметров однотипных элементов фиксированной длины.
URI: http://openarchive.nure.ua/handle/document/1715
Appears in Collections:Международная научная конференция "Функциональная база наноэлектроники" Харьков-Кацивели 2011-2012

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
1414.doc27 kBMicrosoft WordView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.

Admin Tools