Please use this identifier to cite or link to this item: http://openarchive.nure.ua/handle/document/1702
Title: Вопросы обработки первичных данных при ближнеполевой микроволновой микроскопии полупроводников
Authors: Гордиенко, Ю. Е.
Ларкин, С. Ю.
Сорока, А. С.
Keywords: наноэлектроника
микроволновая микроскопия
медицинская техника
Issue Date: 2011
Publisher: ХНУРЭ
Citation: Гордиенко, Ю. Е. Вопросы обработки первичных данных при ближнеполевой микроволновой микроскопии полупроводников / Ю. Е. Гордиенко, С. Ю. Ларкин, А. С. Сорока // Функциональная база наноэлектроники : сб. науч. тр. IV Междунар. науч. конф., 30 сент. – 3 окт. 2011 г. – Х. ; Кацивели : ХНУРЭ, 2011. – С. 264–267.
Abstract: e-mail: mepu@kture.kharkov.ua In the report the analysis of the basic problems of processing of the primary measuring information in scanning microwave near field microscopy of semiconductors is presented and features of construction of radio images of samples are considered. Цель данной работы: анализ основных проблем обработки первичной изме-рительной информации в ближнеполевой сканирующей микроскопии полупроводников и выработка эффективных алгоритмов получения изображений образцов.
URI: http://openarchive.nure.ua/handle/document/1702
Appears in Collections:Международная научная конференция "Функциональная база наноэлектроники" Харьков-Кацивели 2011-2012



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.

Admin Tools