Please use this identifier to cite or link to this item: http://openarchive.nure.ua/handle/document/1475
Title: Алгоритм восстановления распределения по глубине электрофизических свойств полупроводников в микроволновой микроскопии
Authors: Гордиенко, Ю. Е.
Ларкин, С. Ю.
Мельник, С. И.
Слипченко, Н. И.
Keywords: полупроводниковые материалы
микроволновое сканирование
микроволновая сканирующая микроскопия
микроволновая сканирующая томография
Issue Date: 2010
Publisher: Вебер
Citation: Гордиенко, Ю. Е. Алгоритм восстановления распределения по глубине электрофизических свойств полупроводников в микроволновой микроскопии / Ю. Е. Гордиенко, С. Ю. Ларкин, С. И. Мельник, Н. И. Слипченко // СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии : материалы 22-й Междунар. Крымской конф. (КрыМиКо'2012), 10-14 сент. 2012 г. - Севастополь : Вебер, 2012. - Т. 2. - С. 621-622.
Abstract: Рассмотрен алгоритм восстановления рас пределения по глубине электрических свойств полупроводниковых материалов в методе микроволнового сканирования учился. Для анализа полученных данных используется итерационный метод последовательных возмущений.
URI: http://openarchive.nure.ua/handle/document/1475
Appears in Collections:Международная Крымская конференция " СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии" ( КрыМиКо)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
621_622.pdf147.17 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.

Admin Tools