Публікація:
Сравнительный анализ характеристик резонаторных зондов для СММ

Завантаження...
Зображення мініатюри

Дата

2011

Назва журналу

ISSN журналу

Назва тома

Видавництво

ХНУРЭ

Дослідницькі проекти

Організаційні підрозділи

Видання журналу

Анотація

Анализируется зависимость исходной и рабочей добротности широко применяемых в сканирующей микроволновой микроскопии (СММ) ближнеполевых резонаторных зондов с коаксиальной измерительной апертурой от размера накопительной области. Анализ осуществляется по результатам численных оценок с использованием метода конечных элементов (МКЭ) в решении электродинамической задачи на собственные значения резонансной системы. Выполняется сравнение с оценками по приближенным соотношениям и результатам эксперимента.

Опис

Ключові слова

сканирующая микроволновая микроскопия, метод конечных элементов, электродинамическая задача

Бібліографічний опис

Гордиенко, Ю. Е. Сравнительный анализ характеристик резонаторных зондов для СММ / Ю. Е. Гордиенко, А. А. Камышан, С. Ю. Ларкин // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – Х. : Изд-во ХНУРЭ, 2011. – Вып. 1. – С. 24-29.

DOI