Публікація: Сравнительный анализ характеристик резонаторных зондов для СММ
Завантаження...
Дата
Назва журналу
ISSN журналу
Назва тому
Видавець
ХНУРЭ
Анотація
Анализируется зависимость исходной и рабочей добротности широко применяемых в сканирующей микроволновой микроскопии (СММ) ближнеполевых резонаторных зондов с коаксиальной измерительной апертурой от размера накопительной области. Анализ осуществляется по результатам численных оценок с использованием метода конечных элементов (МКЭ) в решении электродинамической задачи на собственные значения резонансной системы. Выполняется сравнение с оценками по приближенным соотношениям и результатам эксперимента.
Опис
Ключові слова
сканирующая микроволновая микроскопия, метод конечных элементов, электродинамическая задача
Цитування
Гордиенко, Ю. Е. Сравнительный анализ характеристик резонаторных зондов для СММ / Ю. Е. Гордиенко, А. А. Камышан, С. Ю. Ларкин // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – Х. : Изд-во ХНУРЭ, 2011. – Вып. 1. – С. 24-29.