За технічних причин Електронний архів Харківського національного університету радіоелектроніки «ElAr КhNURE» працює тільки на перегляд. Про відновлення роботи у повному обсязі буде своєчасно повідомлено.

Статистика для Degradations of semicondactor devices under pulsed heat overloading

Загальна кількість переглядів

views
Degradations of semicondactor devices under pulsed heat overloading 2

Загальна кількість переглядів на місяць

views
October 2023 0
November 2023 0
December 2023 0
January 2024 2
February 2024 0
March 2024 0
April 2024 0

Перегляди файлів

views
article_2000_3_96.pdf 8