Мачехин, Ю. П.Татьянко, Д. Н.Лукин, К. А.Данаилов, М. Б.2019-05-182019-05-182011Применение метода спектральной интерферометрии для измерения микро- и нанорасстояний / К. А. Лукин, Ю. П. Мачехин. М. Б. Данаилов, Д. Н. Татьянко // Радиофизика и єлектроника - 2011 - том 2 - N1 - с.39-45http://openarchive.nure.ua/handle/document/8790Представлены результаты исследований оптической интерферометрии на основе низкокогерентных источников излуче¬нии вне зоны когерентности. Показано, что когда разность плеч' интерферометра Майкельсона превышает длину когерентности нмучення светодиода, явление спектральной интерференции обеспечивает абсолютные измерения микро- и нанорасстояний в пнипетепши со временем задержки и относительной фазой между опорным и зондирующим сигналамиruспектральная интерферометриясветодиод, шумовой оптический сигналArticle