Хаханов, В. І.Литвинова, Є. І.Ngene, C. U.2016-09-132016-09-132009Хаханов В. І. Сервісне обслуговування сучасних цифрових систем на кристалах / Хаханов В. І., Литвинова Е. І., Ngene Cristopher Umerah // Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС) - 2009http://openarchive.nure.ua/handle/document/2464Рассматривается проблема адаптации технологий тестирования цифровых систем на кристаллах (System on Chip – SoC) для нового конструктивного поколения цифровых систем – System-in-Package (SiP), позволяющего эффективно и компактно имплементировать в кристаллы сверхсложные специализированные вычислительные и радиочастотные устройства для рынка электронных технологий. Вместе с тем пакет кристаллов формирует спектр новых задач сервисного обслуживания SiP-функциональностей в реальном масштабе времени, которое существенно отличается от процессов встроенного диагностирования SoC. В связи с этим предлагается алгебрологический метод диагностирования и восстановления работоспособности функциональных логических блоков FPGA, основанный на использовании таблиц неисправностей и их анализе в реальном масштабе времени.ruдефекттестированиевосстановление работоспособностицифровая система на кристаллепрограммируемая логикаArticle