Хаханова, И. В.Чугуров, И. Н.Парфентий, А. Н.2021-05-102021-05-102003Хаханова И. В. Топологический метод анализа дефектов / И. В. Хаханова, И. Н. Чугуров, А. Н. Парфентий // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – 2003. – Вып. 4. – С. 69–74.https://openarchive.nure.ua/handle/document/15916Предлагается быстродействующий метод моделирования неисправностей.ruмоделирование неисправностейбыстродействующий метод моделированияArticle