Техника микроволнового контроля в полупроводниковом материаловедении - Бородин, Б. Г.; Абуанзех Ияд; Ананьин, В. В. (ХНУРЭ, 2002)
Приводятся результаты разработки схем микроволновой диагностики полупроводников, предназначенных для измерения следующих параметров полупроводниковых материалов и структур: электропроводность; фотопроводимость; время жизни, скорость поверхностной рекомбинации и подвижность носителей заряда; толщина слоев. Схемы построены на микрополосковых линиях с применением программного пакета Microwave Office.
Keywords: микроволновая диагностика; фотопроводимость