Бородин, Б. Г.Абуанзех ИядАнаньин, В. В.2021-06-052021-06-052002Бородин Б. Г. Техника микроволнового контроля в полупроводниковом материаловедении / Б. Г. Бородин, Абуанзех Ияд, В. В. Ананьин // Радиотехника : Всеукр. межвед. науч.–техн. сб. – 2002. – Вып. 130. – С. 79–84.https://openarchive.nure.ua/handle/document/16337Приводятся результаты разработки схем микроволновой диагностики полупроводников, предназначенных для измерения следующих параметров полупроводниковых материалов и структур: электропроводность; фотопроводимость; время жизни, скорость поверхностной рекомбинации и подвижность носителей заряда; толщина слоев. Схемы построены на микрополосковых линиях с применением программного пакета Microwave Office.ruмикроволновая диагностикафотопроводимостьArticle