Хаханов, В. И.Емельянов, И. В.Любарский, М. М.Чумаченко, С. В.Литвинова, Е. И.Тамер Бени Амер2020-06-042020-06-042017Кубитный метод дедуктивного анализа неисправностей для логических схем / В. И. Хаханов, И. В. Емельянов, М. М. Любарский и др. // Электрон. моделирование. – 2017. –Т. 39, №6. – С. 59–91.http://openarchive.nure.ua/handle/document/11988Разработаны инновационные методы взятия булевых производных,синтеза тестов на их основе,а также дедуктивного моделирования неисправностей для функциональных элементов заданных кубитными покрытиями.ruсинтез тестовкубитное покрытиебулева производнаяцифровая схемаArticle