Кулак, Э. Н.Пересекин, А. В.Пересекина, Е. В.2018-11-232018-11-232000Кулак Э. Н. Оценка времени тестирования при обеспечении тестопригодности матричных структур систолического типа / Э. Н. Кулак, А. В. Пересекин, Е. В. Пересекина // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – Х. : ХНУРЭ, 2000. – Вып. 4. – С. 74-77.http://openarchive.nure.ua/handle/document/7378Предлагается новый способ оценки времени тестирования при тестопригодном проектировании ортогонально связанных однонаправленных систолических комбинационных элементовruоценка времени тестированиятестопригодность матричных структурArticle