Гордиенко, Ю. Е.Камышан, А. А.Ларкин, С. Ю.2016-06-162016-06-162011Гордиенко, Ю. Е. Сравнительный анализ характеристик резонаторных зондов для СММ / Ю. Е. Гордиенко, А. А. Камышан, С. Ю. Ларкин // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – Х. : Изд-во ХНУРЭ, 2011. – Вып. 1. – С. 24-29.http://openarchive.nure.ua/handle/document/1030Анализируется зависимость исходной и рабочей добротности широко применяемых в сканирующей микроволновой микроскопии (СММ) ближнеполевых резонаторных зондов с коаксиальной измерительной апертурой от размера накопительной области. Анализ осуществляется по результатам численных оценок с использованием метода конечных элементов (МКЭ) в решении электродинамической задачи на собственные значения резонансной системы. Выполняется сравнение с оценками по приближенным соотношениям и результатам эксперимента.ruсканирующая микроволновая микроскопияметод конечных элементовэлектродинамическая задачаArticle