Котляр, Л. В.2023-08-202023-08-202020Котляр Л. В. Дослідження перспективних топологій побудови наноелектронних пристроїв, заснованих на фрактальних структурах : пояснювальна записка до атестаційної роботи здобувача вищої освіти на другому (магістерському) рівні, спеціальність 153 Мікро- та наносистемна техніка / Л. В. Котляр ; М-во освіти і науки України, Харків. нац. ун-т радіоелектроніки. – Харків, 2020. – 60 с.https://openarchive.nure.ua/handle/document/23950Об’єкт дослідження — фрактальні структури. Мета роботи — проведення аналізу напрямів застосування фрактальних структур в мікро- та нанотехнологіях та дослідження можливостей їхнього використання для створення еластичних електронних компонентів. Методи дослідження — аналіз літератури, комп’ютерне моделювання, комп’ютерний сннтез структур. В атестаційній роботі проведено огляд методів та способів реалізації фрактальних структур. Наведено приклади використання їх у мікроелектроніці. Одним з найбільш перспективних напрямів визнано створення на їх основі еластичних електронних пристроїв. Внаслідок виконання роботи оглянуто декілька методів визначення і застосування фрактальних структурukфракталкластернанотехнологіїкристалографіякристалографіяпікселнапівпровідникДослідження перспективних топологій побудови наноелектронних пристроїв, заснованих на фрактальних структурахOther