Хаханов, В. И.Баранник, В. В.Краснояружская, К. Ш.Каминская, М. А.2025-10-262025-10-262008Модель тестирования программных и аппаратных компонентов цифровых систем на кристаллах / В. И. Хаханов, В. В. Баранник, К. Ш. Краснояружская, М. А. Каминская // Прикладная радиоэлектроника. Состояние и перспективы развития (МРФ-2008) : материалы 3-го Междунар. радиоэлектрон. форума, 22-24 октября 2008 г. – Т. 5. – Харьков : АНПРЭ, ХНУРЭ. 2008. – С. 26–29.https://openarchive.nure.ua/handle/document/32992Представлены модели и методы тестопригодного проектирования программных продуктов, основанные на модификациях технологических и технических решений синтеза и анализа цифровых систем на кристаллах, представленных моделями программных и аппаратных компонентов в виде ориентированных графов регистровых передач и управления вычислительным процессом, которые используются для тестопригодного анализа и синтеза тестов.otherсистема на кристаллахтестопригодный анализArticle