Модель тестирования программных и аппаратных компонентов цифровых систем на кристаллах - Хаханов, В. И.; Баранник, В. В.; Краснояружская, К. Ш.; Каминская, М. А. (ХНУРЭ, 2008)
Представлены модели и методы тестопригодного проектирования программных продуктов, основанные на модификациях технологических и технических решений синтеза и анализа цифровых систем на кристаллах, представленных моделями программных и аппаратных компонентов в виде ориентированных графов регистровых передач и управления вычислительным процессом, которые используются для тестопригодного анализа и синтеза тестов.
Keywords: система на кристаллах; тестопригодный анализ