Семьонов, А. В.2022-02-082022-02-082021Семьонов А. В. Секвенсори аналізу даних в метриці подібності-відмінності : пояснювальна записка до атестаційної роботи здобувача вищої освіти на другому (магістерському) рівні, спеціальність 123 Комп’ютерна інженерія / А. В. Семьонов ; М-во освіти і науки України, Харків. нац. ун-т радіоелектроніки. – Харків, 2021. – 64 с.https://openarchive.nure.ua/handle/document/19566Пропонуються комп’ютингові рішення для аналізу даних і діагностування технічного стану цифрових пристроїв на основі метрики подібності/відмінності. Аналізується стан питання. Пропонуються методи і алгоритми з їх кодовими реалізаціями для аналізу процесів і явищ, на основі векторних або табличних структур даних: 1) Інтерфейс введення даних. 2) Обчислення подібності/відмінності об'єктів. 3) Similarity-Difference method for Diagnosis Computingukсеквенсорметрика подібності/відмінностівекторні структури даниханаліз великих данихкіберфізичний комп’ютингметод діагностики обчисленьвідстань ЛевенштайнаOther