Хаханов, В. И.Ктейман, ХассанПарфентий, А. Н.Хаханова, И. В.2016-09-062016-09-062007Хаханов В. И. Встроенное аппаратное моделирование при проектировании SoC / Хаханов В. И., Хассан Ктейман, Парфенитий А. Н., Хаханова И. В. // Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС) - 2007http://openarchive.nure.ua/handle/document/2187Предлагаются методы аппаратного моделирования неисправностей и исправного поведения, основанные на методологии HES и PRUS фирмы Aldec, USA. Предлагается структурно-функциональная многозначная аппаратная модель цифрового устройства с шинной организацией линий для многократного повышения быстродействия анализа переходных процессов; представлена аппаратурная реализация троичного метода моделирования исправного поведения HES-MV – Hardware Embedded Simulation based on Multi-Valued alphabet для цифровых проектов вентильного и регистрового уровней описания.ruмоделированиеверификацияцифровые системы на кристаллаханализ переходных процессовArticle