Нікітін, В. Р.2021-11-292021-11-292021Нікітін В. Р. Системи позиціонування в скануючій зондовій мікроскопії / В. Р. Нікітін, науковий керівник – ст. викл. Карнаушенко В. П. // Радіоелектроніка та молодь у ХХІ столітті : матеріали 25-го Міжнар. молодіжн. форуму, 20-22 квітня 2021 р. – Харків : ХНУРЕ, 2021. – Т. 1. – С. 47–48.https://openarchive.nure.ua/handle/document/18504Scanning probe microscopes (SPM) are a class of microscopes for obtaining an image of a surface and its local characteristics. The image construction process is based on scanning the surface with a probe. In the general case, it allows to obtain a three-dimensional image of the surface (topography) with high resolution.ukзондова мікроскопіяConference proceedings