Криштафович, С. А.Бородин, А. В.2019-04-172019-04-172017Криштафович С. А. Лабораторный макет для измерения электрофизических параметров тонких пленок / С. А. Криштафович, А. В. Бородин // Радіоелектроніка та молодь у ХХІ столітті : зб. тез. доп. ХХI Харків. конф. молодих науковців, 25–27 квіт. 2017 р. – Харків, 2017. – С. 35.http://openarchive.nure.ua/handle/document/8391Thin films have different electro physical parameters: electro conductivity, thermal conductivity and electrical stability. This article is about device, which help analyze different temperature dependence. This device is built by microcontroller Atmega 256 and sensor Si7051.ruИзмерения электрофизических параметровПараметры тонких пленокThesis