Гордиенко, Ю. Е.Ларкин, С. Ю.Сорок, A. C.2021-04-072021-04-072011Гордиенко Ю. Е. Радиационные эффекты в ближнеполевой микроволновой микроскопии полупроводников / Ю. Е. Гордиенко, С. Ю. Ларкин, A. C. Сорока // Радиотехника : Всеукр. межвед. науч.–техн. сб. – 2011. – Вып. 164. – С. 180–189.https://openarchive.nure.ua/handle/document/15370Цель работы - обоснование научного подхода к построению адекватной численной электродинамической модели резонаторных сенсоров с коаксиальной апертурой наиболее перспективных для микроволновой микроскопии полупроводников и выявление возможных источников систематической погрешности ближнеполевых измеренийruрадиотехникаРадиационные эффекты в ближнеполевой микроволновой микроскопии полупроводниковArticle