Гордиенко, Ю. Е.Ларкин, С. Ю.Чхотуа, М. С. Е.2016-07-132016-07-132012Гордиенко, Ю. Е. Влияние зазора зонд — образец в сканирующей микроволновой микроскопии / Ю. Е. Гордиенко, С. Ю. Ларкин, М. С. Е. Чхотуа // СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии : материалы 22-й Междунар. Крымской конф. (КрыМиКо'2012), 10-14 сент. 2012 г. - Севастополь : Вебер, 2012. - Т. 2. - С. 623-624.http://openarchive.nure.ua/handle/document/1495В докладе приводятся полученные путем численных исследований зависимости распределения СВЧ поля вдоль оси системы зонд-зазор-объект для конусного коаксиального резонаторного зонда от величины зазора. А также даны зависимости от зазора фундаментальных сигналов сканирования. В совокупности эти результаты представляют основу для комплексных оценок влияния зазора на функционирование СММ и проектирования алгоритмов реконструкции изображений в широком диапазоне значений электрофизических параметров объектов.ruконусный коаксиальный резонаторный зондсканирующая микроволновая микроскопиясканирующая туннельная микроскопиятелекоммуникационные технологииConference proceedings