Інтелектуальна система виявлення дефектів пакування на базі мікроконтролера STM32 з використанням бібліотеки методів комп'ютерного зору OpenCV - Павленко, Є. М. (My University, 2025)
Метою атестаційної роботи є розробка та дослідження інтелектуальної системи виявлення дефектів пакування, що базується на мікроконтролері STM32F746 для захоплення та первинної обробки зображень, серверному компоненті на Java та бібліотеки OpenCV, а також моделі глибокого навчання для аналізу зображень, та веб-інтерфейс для моніторингу. У ході виконання атестаціційної роботи було проведено аналіз предметної області контролю якості пакування, розглянуто існуючі системи та технології, що застосовуються для виявлення дефектів, та обґрунтовано актуальність обраного напрямку дослідження. Сформульовано детальні вимоги до розроблюваної системи. Розроблено розподілену архітектуру апаратно-програмного комплексу. Для реалізації мікроконтролерного вузла розроблено програмне забезпечення мовою C з використанням бібліотек HAL та ОСРЧ FreeRTOS, що забезпечує управління камерою, захоплення та передачу JPEG-зображень. Для Сервера Аналізу розроблено додаток на Java, що приймає зображення, виконує їх попередню обробку засобами OpenCV та класифікацію. Для Сервера Даних та Моніторингу створено інтерактивний веб-додаток, що архівує результати в базі даних MySQL та надає їх за запитом.
Keywords: інтелектуальна система; виявлення дефектів; контроль якості пакування; мікроконтролер stm32