Гордиенко, Ю. Е.Слипченко, Н. И.Петров, В. В.2021-07-062021-07-062007Гордиенко Ю. Е. Чувствительность СВЧ резонаторных измерительных преобразователей для микроволновой микроскопии / Ю. Е. Гордиенко, Н. И. Слипченко, В. В. Петров // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – 2007. – Вып. 3. – С. 19–23.https://openarchive.nure.ua/handle/document/16925Выполняется количественное исследование вклада в пространственную разрешающую способность различных компонент электромагнитного поля коаксиального резонаторного измерительного преобразователя при ближ- неполевой микроволновой микроскопии полупроводниковых материалов. Приводятся зависимости, позволяющие прогнозировать изменения чувствительности измерительного преобразователя и ее порога как по пространственному разрешению, так и по величине неоднородности параметровruрезонаторный измерительрадиоэлектроникаArticle