Гнатенко, А. С.Васько, К. А.Обозная, В. П.Кальная, О. А.Бачило, А. К.2018-06-052018-06-052017Расчет основных параметров жк-ячеек для применения в устройствах фотоники / А. С. Гнатенко, К. А. Васько, В. П. Обозная, О. А. Кальная, А. Бачило // Перспективні напрямки сучасної електроніки, інформаційних і комп'ютерних систем: матеріали та програма науково-технічної конференції, м. Дніпро, 22-24 листопада 2017 р. – Дніпро : ДНУ, 2017. – С. 214.http://openarchive.nure.ua/handle/document/5845Исследованиям особенностей устройств на основе структур нематических жидких кристаллов (ЖК) уделяется большое внимание. Это связано с практическим использованием принципов их работы в ЖК дисплеях [1] и устройств на основе жидких кристаллов, используемых в фотонике. В данной работе рассмотрен метод теоретического и численного моделирования ЖК ячеек, который можно использовать для их любого исполнения.ruфотоникалазержидкие кристаллыРасчет основных параметров жк-ячеек для применения в устройствах фотоникиAbstract of Thesis