Шматько, О. О.Одаренко, Є. М.Вертій, О. О.2021-02-102021-02-102020Шматько О. О. Застосування анізотропного фотонного кристалу для визначення діелектричної проникності матеріалів і рідин / О. О. Шматько, Є. М. Одаренко, О. О. Вертій // Матеріали ХХ міжнародної науково-технічної конференції “Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах”, Одеська національна академія зв’язку ім. О С. Попова. –м. Одеса, 26-29 червня 2020 р. – С. 35-36.http://openarchive.nure.ua/handle/document/14427Представлено новий поляриметричний метод вимірювання діелектричної проникності матеріалів і рідин на основі анізотропного фотонного кристалу. Теоретично розв’язана задача розсіяння плоских електромагнітних хвиль двох ортогональних поляризацій методом матриці передачі і знайдено в аналітичному вигляді коефіцієнти проходження хвиль та визначено кут нахилу площини поляризації хвилі для повного поля за кристалом. Проведено аналіз зміни кута в залежності від параметрів анізотропного кристалу і встановлено його зв'язок з діелектричною проникністю вимірюваного зразка середовища за повним проходження хвиль на різних частотах. Розраховано кути повороту площини поляризації для різних значень діелектричної проникності одного із шарів фотонного кристалу. Показана висока чутливість методу знаходження діелектричної проникності зразків на фотонному анізотропному поляриметрі.ukполяриметріяфотонні кристалиполяризація хвильвимірювання діелектричної проникностіЗастосування анізотропного фотонного кристалу для визначення діелектричної проникності матеріалів і рідинAbstract of Thesis