Хаханов, В. И.Каминская, М. А.Егоров, А. А.Побеженко, И. А.2021-06-062021-06-062004Повышение качества теста на основе технологии Boundary Scan / В. И. Хаханов, М. А. Каминская, А. А. Егоров, И. А. Побеженко // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – 2004. – Вып. 3. – С. 85–90.https://openarchive.nure.ua/handle/document/16369Предлагается метод повышения качества теста в процессе моделирования неисправностей цифровых систем.ruрадиотехникарадиоэлектроникаПовышение качества теста на основе технологии Boundary ScanArticle