Спектральный анализ корреляционной функции при толщинометрии ЭМА методом - Руженцев, И. В.; Марченко, А. В. (ХНУРЭ, 2005)
Цель данной работы — разработка такого способа обработки отраженных от дна сигналов, который бы позволил осуществлять точные измерения толщины изделий ЭМА методом при малых отношениях сигнал/шум.
Keywords: спектральный анализ; толщиномер; обработка сигналов