Руженцев, И. В.Марченко, А. В.2019-12-192019-12-192005Руженцев И. В. Спектральный анализ корреляционной функции при толщинометрии ЭМА методом / И. В. Руженцев, А. В. Марченко // Радиотехника : Всеукр. межвед. науч.-техн. сб. – Х. : ХНУРЭ, 2005. – Вып. 143. – С. 30–33.http://openarchive.nure.ua/handle/document/10435Цель данной работы — разработка такого способа обработки отраженных от дна сигналов, который бы позволил осуществлять точные измерения толщины изделий ЭМА методом при малых отношениях сигнал/шум.ruспектральный анализтолщиномеробработка сигналовСпектральный анализ корреляционной функции при толщинометрии ЭМА методомArticle