Использование интерференционных методов для контроля параметров критичных поверхностей коммутационных компонентов волоконно-оптических систем - Филипенко, А. И. (ХНУРЭ, 2004)
Описывается контроль состояния критичных поверхностей волоконно-оптических компонентов, который выполняется методом двухлучевой интерференции по схеме интерферометра Майкельсона.
Keywords: интерферометр Майкельсона; контроль состояния критичных поверхностей