Филипенко, А. И.2021-06-202021-06-202004Филипенко А. И. Использование интерференционных методов для контроля параметров критичных поверхностей коммутационных компонентов волоконно-оптических систем / А. И. Филипенко // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – 2004. – Вып. 2. – С. 81–88.https://openarchive.nure.ua/handle/document/16599Описывается контроль состояния критичных поверхностей волоконно-оптических компонентов, который выполняется методом двухлучевой интерференции по схеме интерферометра Майкельсона.ruинтерферометр Майкельсонаконтроль состояния критичных поверхностейArticle