Контроль фотопроводимости полупроводников при помощи СВЧ техники - Бородин, Б. Г.; Вербицкий, В. Г. (ХНУРЭ, 2011)
The questions of microwave-biased research photoconductivity in semiconductors are considered in the report. It is showed that use of the quasi-statistic resonators for measuring of photoconductivity is more preferable. Are presented. results of theoretical and experimental researches. СВЧ смещение для исследования фотопроводимости (ФП) полупроводников ис-пользуется весьма широко и эффективно. Преимущества СВЧ смещения по сравнению с постоянным напряжением, заключающиеся, прежде всего, в отсутствии необходимости создавать омические контакты, обеспечили дальнейшее развитие этого направления. Убедительно показано, что применение СВЧ смещения при исследовании полупроводников позволяет получать более объективную информацию, а зачастую - качественно новую информацию.
Keywords: СВЧ смещение; омический контакт; резонаторы; фотопроводимость