Многопараметрический модуляционный СВЧ-датчик с емкостной измерительной апертурой - Гордиенко, Ю. Е.; Панченко, А. Ю. (ХТУРЭ, 1999)
Представлен наиболее доступный подход получения дополнительной информации, как реакции датчика на изменение положения образца. Дополнительная информация позволяет исключить наиболее существенные погрешности и определить недоступные ранее характеристики. В качестве примера рассматривается возможность измерения характеристик двухслойной диэлектрической структуры коаксиальным емкостным датчиком
Keywords: емкостной датчик; двухслойная диэлектрическая структур