Абрамов, В. С.2024-03-182024-03-182024Абрамов В. С. Метод аналізу тестопридатності комбінаційних схем у системах вбудованого самотестування : пояснювальна записка до кваліфікаційної роботи здобувача вищої освіти на другому (магістерському) рівні, спеціальність 123 – Комп'ютерна інженерія / В. С. Абрамов ; М-во освіти і науки України, Харків. нац. ун-т радіоелектроніки. – Харків, 2024. – 55 с.https://openarchive.nure.ua/handle/document/26133Об'єктом дослідження є комбінаційні схеми, що представлені на вентильному рівні. Предметом дослідження є методологія аналізу тестопридатності (розрахунку показників) вентильних схем, що дозволяє виявити ділянки схеми, які необхідно модифікувати для збільшення її тестопридатності і, як наслідок, гарантувати високу якість тесту ще до його побудови. Метою дослідження є розробка вдосконаленого методу аналізу тестопридатності комбінаційних схем для детермінованого тесту, для забезпечення високого покриття несправностей генерованим тестом після внесення певних змін до структури схеми, що покращують її тестопридатність на основі показників, що розраховуються. У цій роботи зроблено огляд і аналіз існуючих методів аналізу тестопридатності цифрових схем, орієнтованих на детерміноване тестування. Зроблено програмна реалізація обраних класичних методів аналізу тестопридатності для проведення порівняльного аналізу. Наведені результати аналізу. Розроблено удосконалений метод аналізу. Проведені експерименти. Область можливого застосування – для побудови детермінованих тестів для комбінаційних схем або їх частин, які погано піддаються псевдовипадковому тестуванню у системах вбудованого самотестування.ukвбудоване тестуваннятестопридатністьсамотестуванняOther