Хаханов, В. И.2020-08-082020-08-081999Хаханов В. И. Технологии условного диагностирования логических устройств / В. И. Хаханов // Проблемы бионики : всеукраинский межвед. науч.-техн. сб. – Х. : ХТУРЭ, 1999. – Вып. 50. – С. 148–156.http://openarchive.nure.ua/handle/document/12649Дан анализ состояния проблемы контроля и поиска дефектов в современных логических устройствах. Предложена методика условного диагностирования введенного класса макродефекгов логических устройств с использованием методов обратного прослеживания и половинного деления на основе выполнения безусловных процедур структурного анализа и моделирования результатов диагноза. The analysis of a current state of the problem of monitoring and searching faults in modem logic devices is given. The technique of conditional diagnosing of the introduced macrofaults class of logic devices using the methods of backtracing and dichotomy on the base of realizations of unconditional procedures of the structural analysis and simulation of outcomes of the diagnosis is offered.ruпроблемы контроля и поиска дефектовметодика условного диагностированияArticle