Технологии диагностирования и восстановления SYSTEM-IN-PACKAGE - Литвинова, Е. И. (ХНУРЭ, 2009)
Рассматривается проблема адаптации технологий тестирования цифровых систем на кристаллах (System on Chip – SoC) для нового конструктивного поколения цифровых систем – System-in-Package (SiP), позволяющего эффективно и компактно имплементировать в кристаллы сверхсложные специализированные вычислительные и радиочастотные устройства для рынка электронных технологий. Вместе с тем пакет кристаллов формирует спектр новых задач сервисного обслуживания SiP-функциональностей в реальном масшта- бе времени, которое существенно отличается от процессов встроенного диагностирования SoC. В связи с этим предлагается алгебрологический метод диагностирования и вос- становления работоспособности функциональных логических блоков FPGA, основанный на использовании таблиц неисправностей и их анализе в реальном масштабе времени.
Keywords: цифровые системы; System-in-Package; электронные технологии