Технологии восстановления работоспособности мультипроцесорных систем на кристаллах - Мурад, Али Аббас; Багдади, Аммар Авни Аббас; Хаханов, В. И.; Литвинова, Е. И.; Дахири, Фарид (ХНУРЭ, 2012)
Цель исследования – аналитический обзор технологий тестирования, ремонта и диагностирования цифровых систем на кристаллах при их проектировании и верификации, ориентированный на существенное увеличение выхода годной продукции и уменьшение времени ее выхода на рынок микроэлектроники. Для достижения цели необходимо решить задачи, связанные с обзором технологий встроенного ремонта цифровых систем на кристаллах, инфраструктуры сервисного обслуживания и аппаратных решений.
Keywords: аналитический обзор технологий тестирования; диагностирование цифровых систем; цифровые системы на кристаллах; инфраструктура сервисного обслуживания