Хаханов, В. И.Скорцова, О. Б.Монжаренко, И. В.2018-11-162018-11-161998Хаханов В. И. Алгоритм диагностирования тестопригодных цифровых структур / В. И. Хаханов, О. Б. Скорцова, И. В. Монжаренко // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – Х. : ХНУРЭ, 1998. – Вып. 2. – С. 127-129.http://openarchive.nure.ua/handle/document/7266Предложен безусловный алгоритм диагностирования цифровых устройств, использующий заложенную на стадии проектирования тестопригодностьruалгоритм диагностированиядиагностика цифровых устройствArticle