Слипченко, Н. И.Унжаков, Д. А.Зуев, С. А.Грибский, М. П.Старостенко, В. В.2021-07-062021-07-062007Влияние ширины затвора на вольт-амперные характеристики и электротепловую стойкость / Н. И. Слипченко, Д. А. Унжаков, С. А. Зуев, М. П. Грибский, В. В. Старостенко // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – 2007. – Вып. 3. – С. 24–26.https://openarchive.nure.ua/handle/document/16924Приводятся и анализируются результаты численных исследований влияния размеров затвора и расстояния исток-сток на статические вольт-амперные характеристики, а также на электрическую и тепловую стойкость полевых транзисторов с затвором Шоттки на GaAs, работающих в напряженных электрических и тепловых режимахruрасстояние исток-стокрадиоэлектроникаВлияние ширины затвора на вольт-амперные характеристики и электротепловую стойкостьArticle