Хаханов, В. И.Масуд М. Д. Мехди2019-11-152019-11-152000Хаханов В. И. Генерация тестов для проверки неисправностей цифровых систем / В. И. Хаханов, Масуд М. Д. Мехди // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – Х. : ХТУРЭ, 2000. – Вып. 4. – С. 78-81.http://openarchive.nure.ua/handle/document/10223Предлагается метод генерации тестов для константных неисправностей, использующий кубические покрытия списков неисправностей для построения одномерных путей активацииruтесты для проверки неисправностейнеисправности цифровых системкристаллы сверхбольшой степени интеграцииArticle