Підвищення якості тесту на основі методу аналізу тестопригодности пристрої на різних рівнях опису - Зайченко, С. А.; Каминская, М. А. (Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС), 2007)
Предлагается метод анализа тестопригодности цифрового устройства, представленного на системном уровне в виде кода VHDL и трансформированого в ориентированный граф для упрощения задач верификации, синтеза тестов и/или улучшения покрытия неисправностей для заданных входных наборов. Метод основан на топологическом анализе синтезированного устройства и последующей его модификации путем разделения режимов работы (тестовый и функциональный) в целях улучшения тестопригодности и упрощения решения задач тестирования.
Keywords: тестопригодность; управляемость; наблюдаемость; путь сканирования; детерминированный тест; взвешенный тест