Зіад Карім Халіль Мохамед2024-07-072024-07-072024Зіад Карім Халіль Мохамед Статичне моделювання випробування радіоелектронної апаратури на надійність / Зіад Карім Халіль Мохамед, Д. О. Брехов ; наук. керівник ас. В. Г. Махонін // Радіоелектроніка та молодь у XXI столітті : матеріали 28-го Міжнар. молодіж. форуму, 16–18 квіт. 2024 р. – Харків : ХНУРЕ, 2024. – Т. 2. – С. 70–71. – DOI: https://doi.org/10.30837/IYF.ASCTREDB.2024.070.https://openarchive.nure.ua/handle/document/27305The article discusses a program developed for simulating the reliability of radio-electronic equipment. It uses various mathematical modeling methods to study system reliability, focusing on specific system variants. The program, based on a database of failure intensity data, allows for testing and evaluating reliability parameters under different conditions. It's beneficial for students working on projects and for conducting scientific researchukвипробування на надійністьConference proceedingshttps://doi.org/10.30837/IYF.ASCTREDB.2024.070