Арсеничев, С. П.Бендеберя, Г. Н.Григорьев, Е. В.Зуев, С. А.Слипченко, Н. И.Старостенко, В. В.Таран, Е. П.2016-06-162016-06-162013Экспериментальное исследование дифракционных свойств тонких проводящих пленок в волноводе / С. П. Арсеничев и др. // Радиотехника : Всеукр. межвед. науч.-техн. сб. – Харьков, 2013. – Вып. 175. – С. 82 – 88.http://openarchive.nure.ua/handle/document/980Широкие возможности изучения структуры, свойств и характеристик тонких пленок появились сравнительно недавно – с появлением микроскопии, обеспечивающей нанометровое разрешение, с использованием современной измерительной аппаратуры. Поглощение электромагнитных волн в тонких пленках объясняется их рассеянием в кристаллитах структуры с преобразованием в акустические волны [1]. При этом под тонкими понимаются пленки, толщина которых много меньше скин-слоя и соизмерима с длиной свободного пробега электронов (пленки толщиной менее 50 нм)ruтонкие пленкимикроскопиянанометровое разрешениеArticle