Экспериментальное исследование дифракционных свойств тонких проводящих пленок в волноводе - Арсеничев, С. П.; Бендеберя, Г. Н.; Григорьев, Е. В.; Зуев, С. А.; Слипченко, Н. И.; Старостенко, В. В.; Таран, Е. П. (ХНУРЭ, 2013)
Широкие возможности изучения структуры, свойств и характеристик тонких пленок появились сравнительно недавно – с появлением микроскопии, обеспечивающей нанометровое разрешение, с использованием современной измерительной аппаратуры. Поглощение электромагнитных волн в тонких пленках объясняется их рассеянием в кристаллитах структуры с преобразованием в акустические волны [1]. При этом под тонкими понимаются пленки, толщина которых много меньше скин-слоя и соизмерима с длиной свободного пробега электронов (пленки толщиной менее 50 нм)
Keywords: тонкие пленки; микроскопия; нанометровое разрешение