Метелев, В. В.2022-02-212022-02-212021Метелев В. В. Вивчення методу редукції системи структурних ознак зображення на основі метричного критерію інформативності : пояснювальна записка до атестаційної роботи здобувача вищої освіти на другому (магістерському) рівні, спеціальність 122 - Комп’ютерні науки / В. В. Метелев; М-во освіти та науки України, Харків. нац. ун-т радіоелектроніки. – Харків, 2021. – 70 с.https://openarchive.nure.ua/handle/document/19839Об’єктом дослідження є методи зменшення розмірності систем ознак для представлення даних у задачі класифікації зображень. Метою є розроблення методів, що дозволяють проводити редукцію системи структурних ознак на основі метричного критерію інформативності. Використано методи метричного аналізу даних, програмного моделювання. Проведено експериментальне дослідження методів редукції на прикладі множин ознак у вигляді наборів бінарних векторів. Критерієм результативності класифікації вибрані метрики Хаусдорфа та Танімото. Здійснена програмна реалізація для моделі редукції множини ознак у вигляді дескрипторів ключових точок зображення. Обсяг опису можна скоротити в два рази, не зменшуючи ефективність розпізнавання.ukкласифікація зображеньPYTHONключові точкидескрипторредукція системи ознакінформативністьметрикаOther