Применение IEEE стандартов для тестирования программно-технических комплексов - Хаханов, В. И.; Елисеев, В. В. (Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС), 2006)
Предлагается подход к использованию IEEE стандартов тестирования для диагностирования сложных иерархических программно-технических комплексов, относящихся к критическим технологиям. Используются различные ad-hoc решения тестирования систем на кристаллах. Предложен алгоритм тестирования программно-технических комплексов на различных уровнях иерархии.
Keywords: System on Chip (SoC); Network on Chip (NoC); IEEE стандарты; ad-hoc технологии; СTL