Кривуля, Г. Ф.Рами Аль-МатернехШкиль, А. С.2018-11-212018-11-211998Кривуля Г. Ф. Количественные оценки тестопригодности цифровых устройств на схемотехническом уровне / Г. Ф. Кривуля, Рами Аль-Матернех, А. С. Шкиль // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – Х. : ХНУРЭ, 1998. – Вып. 4. – С. 75-79.http://openarchive.nure.ua/handle/document/7327Рассматривается выбор и вычисление оценок тестопригодности для цифрового устройства, которые характеризуют затраты на построение диагностического обеспечения.ruтестопригодностьцифровое устройствоArticle