Чумаков, В. І.Харченко, О. І.2021-09-032021-09-032019Пат. 132299 Україна, МПК G 01 S 13/56. Спосіб ідентифікації закладних пристроїв при нелінійній локації / В. І. Чумаков, О. І. Харченко. – № u 201808228 ; заявл. 25.07.2018 ; опубл. 25.02.2019, Бюл. № 4. – 6 с.https://openarchive.nure.ua/handle/document/17397Спосіб ідентифікації закладних пристроїв при нелінійній локації, який включає опромінення контрольованого об'єму НВЧ гармонійним сигналом нелінійного локатора, приймання сигналу-відгуку та спектральний аналіз сигналу-відгуку з вимірюванням амплітудного розподілу компонент спектра, що свідчить про наявність нелінійного пристрою в контрольованому об'ємі, який відрізняється тим, що вимірюванню піддають п'ять складових, кратних частоті опромінення, за результатами вимірювання гармонійних складових розраховуються коефіцієнти розкладання вольт-амперної характеристики та параметри нелінійності напівпровідникового пристрою, розраховані параметри нелінійності порівнюють з параметрами нелінійності напівпровідникових приладів відомих закладних пристроїв, що містяться у блоці пам'яті нелінійного локатора.ukспосіб ідентифікаціїнелінійні локаціїзакладні пристроїНВЧсигнал-відгукСпосіб ідентифікації закладних пристроїв при нелінійній локаціїPatent