Стороженко, В. А.Малик, С. Б.Мягкий, А. В.2016-09-202016-09-202014http://openarchive.nure.ua/handle/document/2919Наведена нова теплофізична модель процесу теплової дефектоскопії. Вона більш повно відображує цей процес і враховує такі фактори як, наприклад, теплопровідність дефекту та обмеження максимальної тем-ператури нагрівання матеріалу. Запропоновано методику оптимізації режиму проведення теплової дефектоскопії, що базується на використанні критерію максимізації відношення сигнал/шум, який враховує не тільки максимізацію корисного сигналу, а і флуктуації випромінювальної здатності об’єкту контролю і нерівномірність нагріву. The new thermophysical model of infrared testing process is presented. This model is more adequate and it allows for such factors as defect thermal conductivity and material reheat temperature limitations. Infrared testing conditions optimization technique that is based on SNR maximization criteria is proposed. Thus it takes into account not only wanted signal maximization, but testing object emittance fluctuations and heating nonuniformity too.ruтепловая дефектоскопиятеплофизическое моделированиеArticle