Епишин, В. А.Неофитный, М. В.2018-06-132018-06-131982Епишин В. А. Дифракционный ответвитель для измерения характеристик лазерного излучения / В. А. Епишин, М. В. Неофитный. // Квантовая электроника. – 1982. – Том 9, №4. – С. 718–725.http://openarchive.nure.ua/handle/document/6135С целью применения дифракционных структур для измерения характеристик лазерного излучения проведено исследование дифракции этого излучения на редких проволочных решетках, включая случаи непериодического расположения проводников. Теоретическое рассмотрение выполнено в приближении однократного рассеяния падающего излучения дифракционно не взаимодействующими элементами редких решеток. Подробно изучена дифракция Френеля, при которой обнаружено новое свойство — отображение при определенных параметрах реше­ток диаграммы направленности падающего пучка, что позволяет упростить существующие схемы измерения характеристик излучения и увеличить диапазон измеряемых величин. Показано, что неэквидистантная решетка, обладающая, указанным свойством, вносит меньше искажений в прошедший пучок при дифракции Френеля, чем периодическая. Исследована поляризационная зависимость рассеянного поля, позволяющая применять данные ответвители для определе­ния направления поляризации.ruArticle