Невлюдов, И. Ш.Роздоловский, Ю. М.2021-05-032021-05-032003Невлюдов И. Ш. Отображение процессов проявления технологической наследственности электронной техники / И. Ш. Невлюдов, Ю. М. Роздоловский // Радиотехника : Всеукр. межвед. науч.–техн. сб. – 2003. – Вып. 133. – С. 218–221.https://openarchive.nure.ua/handle/document/15823Рассмотрены методы отображения информации о развитии дефектов, проявляемых как технологическая наследственность электронной техники. Предлагается модель процесса развития дефектов, разработанная на основе термодинамического подхода, который устанавливает соответствие между реальным и отображаемым объектами. Приведенный алгоритм дает возможность наблюдать процесс на экране монитора и принимать решения о корректировке технологии производства изделий электронной техники.ruрадиотехникаразвитие дефектовArticle