Сніжко, Д. В.Рожицький, М. М.2016-08-012016-08-012012Сніжко, Д.В. Використання надшвидкого потенціостата в сучасній наноаналітиці / Д. В. Сніжко, М. М. Рожицький // Функциональная база наноэлектроники : сб. науч. тр. V Междунар. науч. конф., 30 сент. – 5 окт. 2012 г. – Х. ; Кацивели : ХНУРЭ, 2012. – С. 189–192.http://openarchive.nure.ua/handle/document/1699Кінець XX ст. пов’язано з розробкою нових методів дослідження властивостей та реконструкції поверхонь, що базуються на принципах скануючої мікроскопії. Особливе місце займають таки мікроскопічні методи як скануючий електрохімічний мікроскоп [1] та скануючий інтерфейсний хімічний мікроскоп [2], що є вельми цікавими, оскільки дозволяють досліджувати характеристики поверхні та іі топографію в електрохімічних показниках, тобто здатності до участі у електрохімічних процесах, що відбуваються на її поверхні, проводити дослідження у рідких середовищах, що є, наприклад, принциповим для дослідження живих біологічних клітин.ukнаноелектронікапотенціостатнаноаналітикабіомедична електронікаConference proceedings