Хаханов, В. И.Чумаченко, С. В.Yves, T.Галаган, С. С.2016-09-062016-09-062009Хаханов В. И. Вбудоване діагностування цифрових систем / Хаханов В. И., Чумаченко С. В. Tiecoura Yves, Галаган С. С. // Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС) - 2009http://openarchive.nure.ua/handle/document/2178Рассмотрена проблема адаптации технологий тестирования цифровых систем для нового конструктивного поколения – System-in-Package (SiP), которое постепенно осваивает рынок электронных технологий. Пакет кристаллов формирует спектр новых задач сервисного обслуживания SiP- функциональностей в реальном масштабе времени, который существенно отличается от процессов встроенного диагностирования компонентов SoC (System on Chip)ruдефектвосстановление работоспособностиматрица логических блоковпрограммируемая логикаSiPSoCArticle