Корнієнко, М. Р.2023-02-092023-02-092022Корнієнко М. Р. Методи діагностування запам'ятовуючих пристроїв на основі часових рекурсивних автоматів : пояснювальна записка до кваліфікаційної роботи здобувача вищої освіти на другому (магістерському) рівні, спеціальність 123 – Комп’ютерна інженерія / М. Р. Корнієнко ; М-во освіти і науки України, Харків. нац. ун-т радіоелектроніки. – Харків, 2022. – 60 с.https://openarchive.nure.ua/handle/document/21782Розглянуто існуючі алгоритми тестування RAM. Розглянуто концепцію BIST. Для синтезу алгоритмів і програм тестів діагностування запам’ятовуючих пристроїв запропоновано систему генерації та контролю за виконанням тестів, що містить пристрій управління, матрицю запам’ятовуючих комірок і чотири головки запису (зчитування). Наведено приклад синтезу за допомогою даної системи тесту March С-. Запропоновано реалізацію алгоритму шляхом автоматного проектування, а саме за допомогою моделі часового рекурсивного автомату. Спроектовану систему імплементовано та протестовано на FPGA Xilinx Spartan6.ukрекурсивний автоматmarch c- алгоритмтести marchкінцевий автоматOther